非破壞性檢驗(yàn)，也叫無損檢驗(yàn)，是指利用這些材料企業(yè)內(nèi)部控制結(jié)構(gòu)的異常或缺陷而造成的對(duì)熱、聲、光、電、磁等物理量的變化，對(duì)各種信息工程施工材料、零件、結(jié)構(gòu)件等內(nèi)部和表面存在缺陷問題進(jìn)行分析探測(cè)，phoenix x-ray根據(jù)不用的應(yīng)用領(lǐng)域提供microfocus 和nanofocusTM X 射線系統(tǒng)，

工業(yè) CT 是一種應(yīng)用于工業(yè)的成像技術(shù)，它可以以二維(2d)斷層掃描或三維(3D)成像的形式使用，而不會(huì)損壞被檢測(cè)物體，清晰而準(zhǔn)確地顯示被檢測(cè)物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、成分、材料和缺陷狀態(tài)，GEx-ray是一種使用頻率極高，波長(zhǎng)極短、能量很大的電磁波機(jī)器，

工業(yè)無損檢測(cè)是指計(jì)算機(jī)層析成像技術(shù)，是一種完全不同于普通輻射成像的成像方法。普通的輻射成像是將一個(gè)三維物體投影成一個(gè)二維平面成像。由于各級(jí)圖像的重疊，相互干擾，不僅使圖像模糊，而且使深度信息丟失，不能滿足分析評(píng)價(jià)的要求。

CT 是檢測(cè)被隔離對(duì)象的故障，以避免其他部位的干擾和影響，圖像質(zhì)量高，它能清晰準(zhǔn)確地顯示被測(cè)部位的結(jié)構(gòu)關(guān)系、材料組成和缺陷狀態(tài)。

過去無損檢測(cè)這個(gè)名詞最早叫探傷或無損檢測(cè)，其不同的方法也叫探傷、探傷、磁粉探傷、滲透探傷等等。這種名稱或?qū)懛鱾骱軓V，用法也很多，離不開NDT這個(gè)詞。

長(zhǎng)時(shí)間與工業(yè)生產(chǎn)廢渣進(jìn)行接觸，受到X射線輻射對(duì)人體有危害。由于X射線能激發(fā)熒光，使氣體電離，使其具有感光膠片感光，所以我們可以用電離儀、閃光計(jì)、感光乳片等來檢測(cè)。晶點(diǎn)陣列系統(tǒng)結(jié)構(gòu)對(duì)X射線衍射能產(chǎn)生影響明顯的衍射技術(shù)效應(yīng)，已成為發(fā)展研究發(fā)現(xiàn)晶體內(nèi)部結(jié)構(gòu)、形態(tài)及各種問題缺陷的重要教學(xué)手段。

X 射線具有極強(qiáng)的穿透性，常用于醫(yī)學(xué)透視、工業(yè)檢測(cè)和工業(yè)中長(zhǎng)期接觸 X 射線。X 射線可以激發(fā)熒光，電離氣體，使照相膠乳敏感。

因此，X射線可以用電離儀、閃爍計(jì)數(shù)器和感光乳劑膠片來探測(cè)。晶體點(diǎn)陣列結(jié)構(gòu)對(duì)X射線衍射能量具有明顯的衍射效應(yīng)，已成為研究晶體結(jié)構(gòu)、形貌和各種缺陷的重要手段。

X 射線對(duì)人體有害，對(duì)生物細(xì)胞有一定的破壞作用。過量接觸 x 射線后，會(huì)影響生理功能，引致染色體異常和癌癥。然而，一天兩次，對(duì)人體沒有危險(xiǎn)。

但是對(duì)于工業(yè)CT檢測(cè)設(shè)備來說，大多是用來檢測(cè)電子產(chǎn)品的缺陷，以達(dá)到無損檢測(cè)的目的。一切都要保護(hù)好，只要按要求操作，就不會(huì)有問題。而且X射線檢測(cè)的應(yīng)用范圍很廣，可以應(yīng)用于電子行業(yè)、鑄造行業(yè)、汽車行業(yè)的X射線檢測(cè)設(shè)備。